- 可配置用于讀出多個(gè)霍爾陣列的高精度線性電流感測(cè)或差分無(wú)核和雜散場(chǎng)魯棒電流感測(cè)
- 符合ISO 26262 ASIL-B標(biāo)準(zhǔn)并通過(guò)AEC-Q100認(rèn)證
TDK公司通過(guò)CUR 4000傳感器擴(kuò)大了其Micronas霍爾效應(yīng)傳感器產(chǎn)品系列。該傳感器旨在為汽車和工業(yè)應(yīng)用開(kāi)發(fā)高精度電流測(cè)量技術(shù)，提供非侵入式、電隔離、非接觸式電流感測(cè)。這些特征將有助于混合動(dòng)力和電動(dòng)汽車（xEV）高壓系統(tǒng)的未來(lái)發(fā)展。該產(chǎn)品適用于DC和AC測(cè)量，以及大功率電池檢測(cè)應(yīng)用程序中的過(guò)流檢測(cè)，還可用于測(cè)量電流≥2000A范圍內(nèi)的動(dòng)態(tài)電流。* 對(duì)于此類測(cè)量任務(wù)，CUR 4000具有用于線性有核應(yīng)用程序設(shè)置和差分無(wú)核應(yīng)用程序設(shè)置的不同可配置模式。計(jì)劃于2021年第二季度進(jìn)行該傳感器的生產(chǎn)，目前已提供樣品。在CUR 4000的線性模式下，可配置的霍爾元件陣列可實(shí)現(xiàn)有核雜散場(chǎng)魯棒傳感器模塊設(shè)計(jì)的高精度測(cè)量。差模可實(shí)現(xiàn)無(wú)屏蔽的最小無(wú)核和雜散場(chǎng)魯棒系統(tǒng)設(shè)計(jì)。完整的霍爾陣列讀數(shù)可達(dá)到低于滿量程±0.05％的輸出失調(diào)溫度漂移。此外，傳感器還提供無(wú)磁滯的輸出信號(hào)。±0.2％的非線性誤差和滿量程的±0.005％的噪聲性能允許在高達(dá)8kHz的信號(hào)帶寬下進(jìn)行精確的電流測(cè)量。TDK使用成熟的霍爾傳感器技術(shù)來(lái)構(gòu)造CUR4000。通過(guò)對(duì)非易失性存儲(chǔ)器進(jìn)行編程，可以根據(jù)磁路調(diào)整諸如溫度相關(guān)增益和失調(diào)之類的主要特性。根據(jù)ISO 26262的規(guī)定，CUR 4000被定義為支持SEooC ASIL-B，具有數(shù)種板載診斷功能，該功能使用冗余技術(shù)或與其他電流傳感技術(shù)相結(jié)合，為具有更高ASIL級(jí)別的電流傳感器模塊奠定了基礎(chǔ)。CUR 400采用小型8引腳SOIC8 SMD封裝，與通孔封裝相比，其組裝復(fù)雜度較低。- xEV = 包含電動(dòng)牽引電機(jī)的車輛
- xEV電池監(jiān)控，電池?cái)嚅_(kāi)單元和過(guò)電流檢測(cè)
- 多霍爾陣列傳感器技術(shù)，用于高精度有芯電流感測(cè)
- 可配置用于讀出多個(gè)霍爾陣列的高精度線性電流感測(cè)或差分無(wú)芯和雜散場(chǎng)魯棒電流感測(cè)
- SEooC ASIL-B符合ISO 26262的要求，可支持功能安全應(yīng)用
- 數(shù)字（SPI）接口，用于直接微控制器連接和傳感器編程
- 汽車溫度等級(jí)（TA = -40°C至150°C）
*提及產(chǎn)品的任何目標(biāo)應(yīng)用時(shí)，均未聲明適用性，因?yàn)檫m用性必須在系統(tǒng)級(jí)別進(jìn)行核實(shí)。**必須由客戶的技術(shù)專家針對(duì)每個(gè)客戶應(yīng)用驗(yàn)證所有操作參數(shù)。
TDK-Micronas是TDK集團(tuán)內(nèi)的磁傳感器和CMOS集成的競(jìng)爭(zhēng)力中心。TDK-Micronas在超過(guò)25年的傳感器和執(zhí)行器生產(chǎn)中保持優(yōu)秀表現(xiàn)，在1993年成為了第一家將基于霍爾片的傳感器與CMOS技術(shù)集成的公司。此后，TDK-Micronas向汽車和工業(yè)市場(chǎng)交付了超過(guò)五十億霍爾傳感器。運(yùn)營(yíng)總部位于德國(guó)弗萊堡。目前，TDK-Micronas約有1000名員工。
